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產(chǎn)品分類(lèi)
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微電腦溫沖試驗(yàn)箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動(dòng)化零部件、汽車(chē)配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、國(guó)防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)各種產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它,目前此設(shè)備是工業(yè)產(chǎn)業(yè)共認(rèn)的理想測(cè)試工具。
模擬環(huán)境溫度沖擊測(cè)試設(shè)備可在預(yù)約開(kāi)機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)為蓄熱槽、測(cè)試槽、蓄冷槽三部分，被測(cè)試物品靜止置放于測(cè)試室內(nèi)，可選擇2區(qū)或3區(qū)之測(cè)試功能。可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。
冷熱沖擊箱是一種用于測(cè)試產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性的試驗(yàn)設(shè)備。該設(shè)備可以模擬高溫、低溫和急速溫度變化的條件，從而評(píng)估產(chǎn)品在這些環(huán)境下的耐受能力。
溫沖試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱朔抡娌煌娮訕?gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。
元器件熱沖擊用于測(cè)試電子產(chǎn)品，電子，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，手機(jī)，電腦，太陽(yáng)能組件等產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在Z短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
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